比表面及孔徑分析儀

JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀 精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等，技術(shù)參數(shù)如下： 主機(jī)功能： （1）吸（脫）附等溫曲線測(cè)定 （2）孔徑分布測(cè)定 （3）BET比表面測(cè)定，并可測(cè)定吸附常數(shù)C 值 （4）比表面快速測(cè)定（直接對(duì)比法） 測(cè)定范圍： （1）孔徑：2nm～200nm (2) 比表面：0.1~3500㎡/g 測(cè)量原理： 動(dòng)態(tài)常壓連續(xù)氮吸附法（國(guó)內(nèi)首創(chuàng)） 氣體： 高純氮（99.99%）、高純氦（99.99%） 氣體流量： ≤100mL/min 流量控制： 穩(wěn)壓穩(wěn)流系統(tǒng)，高精度流量傳感器，數(shù)字顯示，顯示精度0.1% 測(cè)量壓力： 常壓 氮?dú)庀鄬?duì)壓力：調(diào)節(jié)范圍 0.05-0.98 測(cè)量重復(fù)精度：≤±3% 測(cè)試時(shí)間： （1）BET比表面：平均每個(gè)樣品30分鐘 （2）孔徑分布：平均每個(gè)樣品3～4小時(shí) （3）數(shù)據(jù)采集：恒流電路，氣體濃度傳感器工作站，放大及濾除雜波系統(tǒng)，采集速度100次/秒。