光譜儀 X射線熒光能譜儀(EDXRF)

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供優(yōu)異的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測限瓶頸。
專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中較具挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可非常大程度提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。

能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。

先進(jìn)的技術(shù)

• 獨(dú)特的 Peltier 電制冷 Si (Li) 檢測器

• 數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)

• 高性能、多元素分析

主要功能 

• 優(yōu)異的痕量分析靈敏度

• 高分析量的進(jìn)程控制

• 適用于異常材料的高等分析算法

• 優(yōu)異的樣品處理靈活性

• 機(jī)械簡化和靈活性

• 占地面積小、易于運(yùn)輸以進(jìn)行野外測量

• 快速、簡易的安裝以及可完全現(xiàn)場定制

• 隨附完整的實(shí)驗(yàn)室啟用套件

• 經(jīng)驗(yàn)證的硬件和全套軟件

• 現(xiàn)場、協(xié)同方法開發(fā)

• 完整的技術(shù)應(yīng)用支持

• 匯集了數(shù)百種應(yīng)用的專業(yè)知識

功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件 

• 無標(biāo)和半無標(biāo)分析

• 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法

• 多層厚度及成分

• 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣

• 利用自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件

可用于：

• 懸浮顆粒物過濾器

• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析

• 法醫(yī)及痕量分析

• 營養(yǎng)補(bǔ)充劑

• 磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體

• 土壤污染

• 過濾器上的薄膜

• 塑料中的有毒元素