鋁合金快速分析儀

儀器簡(jiǎn)介：Xenemetrix的Genius IF  (二次靶激發(fā))  X射線熒光光譜儀（EDXRF）為元素分析市場(chǎng)提供了一個(gè)較經(jīng)濟(jì)有效的解決方案。這款分析儀能夠進(jìn)行無(wú)損的定性定量分析，元素分析范圍從C(6)~Fm（100），檢驗(yàn)精度從PPM~百分比濃度的較高值。

超級(jí)XRF Genius IF 的主要部件包括：

v 集成計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

v 高分辨率硅漂移（SDD）探測(cè)器

v 帶有可變光斑的強(qiáng)大X光管，以適應(yīng)不同大小樣品的測(cè)量

v 8個(gè)二次靶及8款可定制的濾光片可以快速準(zhǔn)確的測(cè)定微量和痕量元素

Genius IF 同樣可以在經(jīng)典的直接激勵(lì)模式下操作，這款光譜儀既可用于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室，同時(shí)緊湊堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)也使得它成為移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。它同樣滿足MIL 810E的沖擊測(cè)試的要求

硅漂移探測(cè)器(SDD): 硅漂移探測(cè)器具有高分辨率和

高計(jì)數(shù)率，分辨率低至123eV,具有更快的響應(yīng)速度和

較小化的操作時(shí)間。

SDD LE: 超薄的探測(cè)器窗口提供性能優(yōu)越的低能元素（輕元素）分析。

技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：SDD系列：F(9) - Fm(100)； SDD  LE 系列：C(6) - Fm(100)
元素含量分析范圍：1ppm~高標(biāo)準(zhǔn)
X-光管：Rh/Ag/Mo/W/Pd 可選
X-射線電壓：50kV,50W
激發(fā)模式：直接激發(fā)和二次靶激發(fā)
穩(wěn)定性：室溫條件下準(zhǔn)確到0.1%
探測(cè)器：硅漂移探測(cè)器（SDD），避免使用液態(tài)氮
濾光片：8款可選
二次靶：1種（指定領(lǐng)域）
分辨率：136ev±5ev
自動(dòng)成樣：8個(gè)位置
工作條件：空氣/真空/氦氣
尺寸（L×W×H，cm）：內(nèi)包裝: 55 x 55 x 32, 外包裝: 80 x 80 x 65
重量：50kg (凈重), 90kg (毛重)
 
主要應(yīng)用：
采礦、金屬冶煉、環(huán)境保護(hù)、石油化工、放射性物質(zhì)檢驗(yàn)、材料研究