上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司

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主營(yíng):超聲波探傷儀,超聲波測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀,金屬電導(dǎo)率儀,鐵素體檢測(cè)儀,便攜式硬度計(jì),usm35超聲波探傷儀,sitescan250s

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Minitest3100涂層測(cè)厚儀

價(jià)格

25000 元/套

  • 單價(jià):電議
  • 最小起訂量: 1
  • 所在地:上海 上海
  • 供貨總量: 10
  • 發(fā)布時(shí)間:2016-11-30

聯(lián)系方式

產(chǎn)品描述

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

   

MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀功能
型號(hào) 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) - 1 500 500
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar -
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar - -
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - -
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 - -
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 -
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) - -
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 -
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
設(shè)置極限值 - -
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別小值 - -
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - -
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示 -
連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率
誤差 小曲率
半徑(凸/凹)
小測(cè)量
區(qū)域直徑
小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm


FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示
  FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度


  F05
0~500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

  F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層

  F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  F10
0~10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


  F20
0~20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

  F50
0~50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

  N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

  N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

  N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

  N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

  N100
0~100mm,200mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
  CN02
10~200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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